Electronique pour Objets Connectés
Electronics for Connected Objects

EpOC-UNS
Polytech' Nice-Sophia, Dpt Electronique
Parc de Sophia Antipolis
930 Route des Colles
06410 Biot
France
Accueil      |      Membres      |      Publications      |      Diaporama      |      Actualités
Thèse soutenue le 7 février 2017

Massiva Zouaoui
Directeur Thèse EpOC Gilles Jacquemod
Titre

Etude et modélisation de la susceptibilité électrmagnétique dans les architectures numériques complexes

Résumé

La compatibilité électromagnétique (ou CEM) est définie comme la capacité d’un appareil électronique à fonctionner correctement dans son environnement sans émettre d’interférences de niveau intolérable. L’étude CEM, souvent réalisée dans le passé après la fabrication des circuits ou systèmes, doit être prise en compte dès les premières phases de la conception. Dans le cas particulier des circuits intégrés, il s’avère difficile de prédire leur comportement face à une agression électromagnétique. L’absence d’information au niveau transistor, contraint les équipementiers à considérer les circuits intégrés comme des « boites noires » durant leur processus de conception. Le travail de cette thèse s’inscrit dans cette problématique où nous étudierons la susceptibilité d’un produit industriel à son environnement électromagnétique.
.Dans ce
manuscrit nous décrivons les expérimentations et simulations que nous avons effectué afin d’établir une méthodologie de préventions des problèmes d’immunité rayonnés dans les automates industriels. La robustesse du circuit, dans notre cas un switch Gigabit Ethernet, est dans un premier temps évaluée par une mesure de type Near Field Scan Immunity (ou NFSI) afin d’être intégrée dans notre environnement de simulation, CST StudioTM. Les agressions électromagnétiques du produit commercial sont alors simulées à l’aide de ce logiciel et permettent une évaluation de l’efficacité du blindage et d’en limiter le coût. A certaines fréquences des corrélations entre champ proche et champ lointain ont été mises en évidence. Une étude plus approfondie demeure nécessaire pour valider l’ensemble de la méthodologie. Toutefois, en se restreignant au domaine du champ proche, les simulations 3D CST et les mesures NFSI sont en parfaites adéquation et sont conformes à des simulations Spice, utilisant le modèle IBIS des entrées/sorties les plus sensibles (Clock et GMII). Pour ces 3 types d’analyse, le même niveau de puissance injectée provoque un dysfonctionnement du circuit.