Résumé
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La compatibilité
électromagnétique (ou CEM) est
définie comme la capacité d’un appareil
électronique à fonctionner correctement dans son
environnement sans émettre
d’interférences de niveau intolérable. L’étude
CEM, souvent réalisée dans le
passé après la fabrication des circuits ou
systèmes, doit être prise en compte
dès les premières phases de la conception. Dans le cas
particulier des circuits
intégrés, il s’avère difficile de prédire
leur comportement face à une
agression électromagnétique. L’absence d’information au
niveau transistor,
contraint les équipementiers à considérer les
circuits intégrés comme des «
boites noires » durant leur processus de conception. Le travail
de cette thèse
s’inscrit dans cette problématique où nous
étudierons la susceptibilité d’un
produit industriel à son environnement
électromagnétique.
.Dans ce manuscrit nous décrivons les
expérimentations et
simulations que nous avons
effectué afin d’établir une méthodologie de
préventions des problèmes
d’immunité rayonnés dans les automates industriels. La
robustesse du circuit,
dans notre cas un switch Gigabit Ethernet, est dans un premier temps
évaluée
par une mesure de type Near Field Scan Immunity (ou NFSI) afin
d’être intégrée
dans notre environnement de simulation, CST StudioTM. Les agressions
électromagnétiques du produit commercial sont alors
simulées à l’aide de ce
logiciel et permettent une évaluation de l’efficacité du
blindage et d’en
limiter le coût. A certaines fréquences des
corrélations entre champ proche et
champ lointain ont été mises en évidence. Une
étude plus approfondie demeure
nécessaire pour valider l’ensemble de la méthodologie.
Toutefois, en se
restreignant au domaine du champ proche, les simulations 3D CST et les
mesures
NFSI sont en parfaites adéquation et sont conformes à des
simulations Spice,
utilisant le modèle IBIS des entrées/sorties les plus
sensibles (Clock et
GMII). Pour ces 3 types d’analyse, le même niveau de puissance
injectée
provoque un dysfonctionnement du circuit.
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