Résumé
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Ce
sujet s’intéresse à la question des interférences
électromagnétiques des microcontrôleurs
32-bits de STMicroelectronics. Avant le début de la
thèse, il était possible de
caractériser ou qualifier à postériori le niveau
d’émissions d’une puce mais il
était beaucoup plus difficile d’en deviner le résultat
comme somme de toutes
ses parties.
Le
but de ce travail de recherche a donc été de concevoir un
modèle réutilisable
afin de prédire le comportement en IEM des
microcontrôleurs. En plus de la
prédiction, l’intérêt de cet outil est qu’il permet
de déterminer l’origine des
faiblesses et ainsi de les améliorer.
Dans
un premier temps, l’expérience sur des microcontrôleurs
existants a permis de déterminer
les mécanismes de faiblesses. Ensuite, à partir des
informations récoltées et d’une
étude poussée de ces puces, un modèle a
été bâti et validé par corrélation
avec
les mesures. Finalement ce modèle a pu être
appliqué dès la conception des
nouvelles puces afin de comparer l’efficacité des solutions
proposées
permettant de réduire les émissions et de faire le bon
compromis de réduction
d’IEM par rapport au coût de la solution.
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