Electronique pour Objets Connectés
Electronics for Connected Objects

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Thèse soutenue le 27 avril 2017

Yann Bacher
Directeur Thèse EpOC Gilles Jacquemod
Titre

Etude et modélisation des perturbations produites au sein des microcontrôleurs STM32 soumis à des stress en impulsion

Résumé

La fiabilité des microcontrôleurs est cruciale compte tenu de leur utilisation massive dans de nombreux domaines, surtout dans des environnements sévères. De ce fait, la robustesse aux perturbations électromagnétiques, en particulier à propos des alimentations, est un axe de développement majeur, que ce soit pour acquérir un avantage comparatif sur le marché, ou simplement pour assurer la sécurité des biens et des personnes. En ce sens, nous avons défini le test de ces circuits soumis à des agressions transitoires rapides en salve définiés par la norme IEC 61000-464. Les mécanismes spécifiques de propagation de la perturbation en mode commun sont mis en évidence, ainsi que leur conversion en mode différentiel. Plusieurs méthodes de mesure, dont certaines originales et novatrices, ont été développées pour valider cette conversion, ainsi que les modes de propagation. Sur cette base, le réseau de distribution des alimentations a été particulèrement étudié et son influence sur la robustesse du circuit a été mise en évidence. Enfin, cette thèse ouvre de nouvelles perspectives d'amélioration de la robustesse des microcontrôleurs et des circuits intégrés en génral, pour ce type d'agression, et donc de leur fiabilité.